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納米粒徑及Zeta電位分析儀Nicomp Z3000采用先進的設計理念優化結構設計,充分有效地融合了動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳光散射(ELS)技術,即可以多角度(步長0.9μm;)檢測分析液態納米顆粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度測量Zeta電位。粒度測試范圍:粒度測試范圍:0.3 nm – 10 µm。
動態光散射納米粒徑分析儀Nicomp N3000是在原有的經典型號380DLS基礎上升級配套而來,采用動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有專li技術的 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有*優勢
納米粒度分析儀NS-90在一臺儀器中集成了動態光散射技術和靜態光散射兩種技術。動態光散射法用于測量粒度及分子大小,靜態光散射法用于確定蛋白質與聚合物的分子量。這種技術對整個系統的穩定性的要求*,要求每個設計元素都必須實現優化,以確保高準確性和重現性。
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